功率半導體柵極應力DGS測試解決方案
2024-05-20
一、 面向SiC和GaN功率半導體柵極應力測試
在SiC和GaN寬帶隙材料中，新故障機制的某些影響不會體現在傳統測試中，但會影響實際應用。
DGS測試（動態柵極應力）彌補了該認證差距，其要求明顯超出之前的測試程序，并且更具應用針對性。
DGS是一種使用快速電壓偏移來激勵柵極端子故障機制的測試。該測試系統涵蓋了所有相關的測試規范。此外，其運行完全自動化，并提供詳細的報告供進一步數據分析使用。
二、系統特性
在DGS測試方面，可將行業擴展要求轉換為自動化動態測試。為滿足快速變化的需求，我們十分注重系統的靈活性。
除激勵外，DGS測試系統還提供多個原位測量，以確定規定時間段內的相關參數。這些原位測量有效地顯示了動態柵極應力對柵氧化物的長期影響，并支持您為客戶提供精確的說明。
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