聯系電話:
0731-84284278
通用電子測試
射頻測試設備
光學和色彩測試
半導體設備
自動化測試系統
材料與結構分析
EMC測試設備
環境儀表/設備
光伏測試
實驗室檢測及配套
其他
行業解決方案
通用解決方案
系統集成業務
公司信息
人力資源
支持服務
聯系我們
湖南省長沙市開福區車站北路湘域智慧南塔
service@hncsw.net
材料與結構分析解決方案
艾克賽普提供的儀器設備可廣泛服務于半導體行業的測試與研發，新材料，納米，物理，生物學，化學和工程學，質檢檢測等。
布魯克Bruker Contour Elite K 三維光學顯微鏡具有高穩定性，具備一定防震性能設計的桌面式型號。布魯克...
布魯克Bruker ContourGT-I 三維光學顯微鏡集三十年表面測量之大成，將創新與工業界合作的經驗集合到一臺桌面...
布魯克Bruker Contour Elite I 三維光學顯微鏡是全自動，有集成防震墊設計的桌面式型號，布魯克Bruk...
布魯克Bruker HYPERION 傅立葉紅外顯微鏡集布魯克公司30年紅外顯微鏡研發、生產經驗之大成，以其在光學元器件...
布魯克Bruker SENTERRA II 緊湊型拉曼顯微鏡被設計為具有極高靈敏度、優異的光譜和成像性能等特點，因此布魯...
布魯克的工程師就和生物研究前沿的的科學家合作，從他們的需求出發，結合自己數十年光學和電子工程的經驗，開發出了Ultima...
幫您降低質量成本，加快產品開發進度。
在線客服
聯系電話
QQ客服
在線留言
關注我們
TOP
您好，歡迎訪問艾克賽普
想要進一步了解我們的產品和方案？
我們7*24小時為您服務！
電話咨詢：0731-84284278
在線咨詢
稍后聯系
提交您的需求，我們將盡快與您聯系
完善您的信息，艾克賽普專業團隊為您提供服務！
請選擇您要填寫的表單類型 *
獲取產品報價
獲取方案詳情
申請技術服務
公司名稱 *
姓名 *
手機號 *
郵箱
需求描述 *
驗證碼 *
<strike id="ua8ei"></strike>
