精密測試技術(shù)展望
2012-12-26
非接觸測試技術(shù)很多，特別值得一提的是視覺測試技術(shù)。現(xiàn)代視覺理論和技術(shù)的發(fā)展，不僅在于模擬人眼能完成的功能，更重要的是它能完成人眼所不能勝任的工作，所以視覺技術(shù)作為當今最新技術(shù)，在電子、光學和計算機等技術(shù)不斷成熟和完善的基礎(chǔ)上得到迅速發(fā)展。視覺測試技術(shù)是建立在計算機視覺研究基礎(chǔ)上的一門新興測試技術(shù)。與計算機視覺研究的視覺模式識別、視覺理解等內(nèi)容不同，視覺測試技術(shù)重點研究物體的幾何尺寸及物體的位置測量，如轎車白車身三維尺寸的測量、模具等三維面形的快速測量、大型工件同軸度測量、共面性測量等。它可以廣泛應用于在線測量、逆向工程等主動、實時測量過程。視覺測試技術(shù)在國外發(fā)展很快，早在20世紀80年代，美國國家標準局就預計，檢測任務的90%將由視覺測試系統(tǒng)來完成。美國在80年代就有100多家公司躋身于視覺測試系統(tǒng)的經(jīng)營市場，可見視覺測試系統(tǒng)確實很有前途。在1999年10月的北京國際機床博覽會上已見到國外利用視覺檢測技術(shù)研制的儀器，如流動式光學三坐標測量機、高速高精度數(shù)字化掃描系統(tǒng)、非接觸式光學三坐標測量機等先進儀器。
所謂兩個極端就是指相對于現(xiàn)在測量尺寸的大尺寸和小尺寸。通常尺寸的測量已被廣為注意，也開發(fā)了多種多樣的測試方法。近年來，由于國民經(jīng)濟的快速發(fā)展和迫切需要，使得很多方面的生產(chǎn)和工程中測試的要求超過了我們所能測試的范圍，如飛機外形的測量、大型機械關(guān)鍵部件測量、高層建筑電梯導軌的準直測量、油罐車的現(xiàn)場校準等都要求能進行大尺寸測量；微電子技術(shù)、生物技術(shù)的快速發(fā)展，探索物質(zhì)微觀世界的需求，測量精度的不斷提高，又要求進行微米、納米測試。
實現(xiàn)各種溯源的要求
(1)自標定、自校準 高精度的測量要求高精度的溯源，很多情況下難以找到滿足精度要求的儀器，重要的原因是溯源制約著測量精度的發(fā)展，在一些情況下則可利用測量儀器的標定和虛擬測量方法，解決溯源問題。
(2)現(xiàn)場直接標定 越來越多的測量儀器要求現(xiàn)場直接標定，很多還是三維的空間標定，發(fā)展現(xiàn)場標定技術(shù)和儀器是完成這些標定的關(guān)鍵。
(3)納米溯源 納米測試的溯源也是個重要的問題。國外已有美國NIST、德國PTB、日本NRIM研究硅(220)晶體的晶面間距準確尺寸，元素晶格尺寸在恒溫下具有很好的穩(wěn)定性，可以用來建立納米溯源基準。
來源 電能質(zhì)量分析儀 http://m.for815.cn/
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