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基于TDR的物理層測試系統(tǒng)
名稱：頻譜分析儀
品牌：
型號：
簡介：基于TDR的物理層測試系統(tǒng) Agilent物理層測試系統(tǒng)（PLTS）為描述單端或差分物理層元件（如：高速底板、電纜、連接器、數(shù)據(jù)包和電路板上的控制跡線等）提供了最準(zhǔn)確的精度和最完善的工具套件。N1930A PLTS軟件可支持時(shí)域反射計(jì)（TD...
- 產(chǎn)品介紹
基于TDR的物理層測試系統(tǒng) Agilent物理層測試系統(tǒng)（PLTS）為描述單端或差分物理層元件（如：高速底板、電纜、連接器、數(shù)據(jù)包和電路板上的控制跡線等）提供了最準(zhǔn)確的精度和最完善的工具套件。N1930A PLTS軟件可支持時(shí)域反射計(jì)（TDR）和4端口的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）。而且VNA和TDR擁有各種優(yōu)勢并可生成相似的測量結(jié)果。但二者相比，TDR系統(tǒng)的價(jià)格更經(jīng)濟(jì)也更便于使用，VNA系統(tǒng)卻可產(chǎn)生更準(zhǔn)確且可跟蹤的測量結(jié)果。
主要特性與技術(shù)指標(biāo) •強(qiáng)大的分析工具，包括頻域、時(shí)域反射計(jì)（TDR）、時(shí)域傳輸 （TDT）和眼圖等
•對單端、差分、共模和模式轉(zhuǎn)換設(shè)備進(jìn)行全面表征
•標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)和自動通道校正（de-skew）算法可實(shí)現(xiàn)快速可靠的差分測量
PLTS與Agilent TDR相結(jié)合，可提供多種儀器控制，如引導(dǎo)設(shè)置和校準(zhǔn)、錯(cuò)誤糾正、采集、數(shù)據(jù)傳輸和高級數(shù)據(jù)分析工具等。由于測量單端和差分結(jié)構(gòu)的程序非常麻煩且費(fèi)時(shí)，所以經(jīng)常會引發(fā)錯(cuò)誤，而采用了這種引導(dǎo)過程就會顯著降低錯(cuò)誤發(fā)生的機(jī)率。
多種新型高數(shù)據(jù)速率串行總線標(biāo)準(zhǔn)都要求對輸入差分插入損耗、回波損耗、阻抗以及近端和遠(yuǎn)端串?dāng)_等進(jìn)行測量描述。而PLTS可直接對這些參數(shù)以及模式轉(zhuǎn)換分析（用于分析EMI）進(jìn)行測量。
基于TDR的物理層測試系統(tǒng)組成：
- 86100A/B/C主機(jī)
-1個(gè)或2個(gè)54754A TDR模塊（進(jìn)行差分頻域分析時(shí)需要2個(gè)模塊）
- N1930A物理層測試系統(tǒng)軟件
注：物理層測試系統(tǒng)中的每個(gè)元件都是單獨(dú)提供的。請參閱產(chǎn)品概述，獲得更多詳細(xì)信息。
•強(qiáng)大的分析工具，包括頻域、時(shí)域反射計(jì)（TDR）、時(shí)域傳輸 （TDT）和眼圖等
•對單端、差分、共模和模式轉(zhuǎn)換設(shè)備進(jìn)行完整的特征描述
•借助RLCG參數(shù)提取并創(chuàng)建用于模擬程序（如HSPICE）的精確傳輸線模型
•由于采用的標(biāo)準(zhǔn)化及參考平面校準(zhǔn)技術(shù)超越了傳統(tǒng)的垂直和時(shí)基校準(zhǔn)技術(shù)，從而可通過從測量結(jié)果中去除電纜的電延遲和損耗，確保更準(zhǔn)確的測量精度。
•通過自動的通道校正（de-skew）算法，實(shí)現(xiàn)快速可靠的差分測量
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