布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀
名稱：光譜儀
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簡介：微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的首選方法。采用多導毛細管聚焦鏡將激發光聚焦到非常小的區域，以獲得極佳的空間分辨率，進行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品...
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微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的首選方法。采用多導毛細管聚焦鏡將激發光聚焦到非常小的區域，以獲得極佳的空間分辨率，進行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進行分析。
布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀采用了全新的技術，為各種用戶提供了最佳的分析性能和非常方便的操控性。布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀采用多導毛細管聚焦鏡，照射光斑最小，空間分辨率最高。渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數可變的攝像系統獲得高品質的樣品影像，可在“飛行中”進行元素分布分析。高強度的X射線光管與多導毛細管聚焦鏡相結合，確保在非常小的照射區域內獲得非常高的激發強度。采用濾光片和可以同時使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據不同的分析要求，優化激發光譜。使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器。
以下是艾克賽普為您介紹布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀的技術參數，如有相關問題，請聯系長沙艾克賽普儀器儀表公司m.for815.cn，聯系電話：0731-84284278 84284378。
布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀的技術參數：樣品類型 固體、顆粒、液體、多層膜；樣品室尺寸 W×D×H：600×350×260mm；樣品臺尺寸 W×D：330×170mm；測量氣氛 大氣/真空，在100秒內準備就緒；樣品移動 最大移動范圍 W×D×H：270×240×120mm；移動速度 渦輪增速樣品臺最大移動速度可達100mm/s；激發 配多導毛細管聚焦鏡的高強度X射線光管 ；選項：可同時使用不同靶材的雙光管
X射線光管參數：可選靶材有Mo，Ag，Cu，W。電壓 50kV,800μA；光斑小于30μm（對于Mo-K）；根據用戶要求，最多6塊濾光片；XFlash®硅漂移探測器；可最多同時使用3個探測器。探測器參數：有效面積10mm2，選項：30mm2；能量分辨率計數率250,000cps時分別優于125eV、135eV。
先進的PC機，Windows XP或Vista操作系統；儀器控制功能 光管參數、濾光片、光學顯微鏡、樣品照明和樣品定位的全面控制；光譜評估 譜峰識別、人工和自動背景校正、峰面積計算、對于塊狀樣品和多層膜樣品基于標樣和無標樣模式的定量分析；分布分析 “飛行中”測量模式，HyperMap軟件功能；結果顯示定量結果、統計計算、元素分布（線掃描、面分布）；電源要求 110-240V（1P），50/60Hz
尺寸（寬×深×高） 815×680×580mm，130kg；質量和安全DIN EN ISO 9001:2000認證, CE認證；完全輻射防護系統；輻射劑量＜1μSv/h。
如果你需要布魯克Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
