艾克賽普 Chroma 3110 雙用單站測試分類機
名稱：其他儀器與工具
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簡介：艾克賽普 Chroma 3110 雙用單站測試分類機是一臺雙用單站的 Pick Place 測試分類 機，支援各種不同類型封裝的晶片，如BGA, BGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 類機運用 Pick...
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- 產品介紹
艾克賽普 Chroma 3110 雙用單站測試分類機是一臺雙用單站的 Pick & Place 測試分類 機，支援各種不同類型封裝的晶片，如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 類機運用 Pick & Place 技術, 將待測晶片由進料艙 移至測試區，再依測試結果進行分類。艾克賽普 Chroma 3110 雙用單站測試分類機不 但適用于系統功能檢測，也同時具備終端電性測 試的能力。可綜合各元件的整體效能并執行測試 系統上的所有測試程式，旨在提供一個全能的解 決方案。
支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm，配備有 自動進出料分類艙及手動分類盤，可最優化工程 測試的實驗數量。簡易操作的操控畫面，及適配 性高的testers連接介面，大幅提升機臺的使用率 及共用性。除此之外，它能針對不同的測試環境 條件，提供數個溫控系統的選擇，如三溫控制系 統、高功率冷卻系統等，測試的環境溫度可設置 于常溫、高溫或低溫。以下是長沙艾克塞普儀器設備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3110 雙用單站測試分類機的產品特性和功能應用，如有疑問或者需要相關資料，請聯系長沙艾克賽普儀器設備有限公司m.for815.cn，可提供樣機和相關工程師上門演示溝通，聯系電話：0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3110 雙用單站測試分類機產品特性：
雙用單站測試分類機
適用於終端測試或系統功能測試
自動進料出料艙的配置及依測試結果自動分類的功能
測頭內建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
智能型的載盤IC殘留偵測
可選配的三溫控制系統 (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃)
可選配的高功率冷卻系統
理想的產品工程或研發實驗設備機，可自動蒐集與分析測試、實驗結果的數據
艾克賽普 Chroma 3110 雙用單站測試分類機功能應用：
艾克賽普 Chroma 3110 雙用單站測試分類機溫控解決方案
三溫變溫控制
- Temperature accuracy : ± 2℃
- Device temperature feedback (Thermocouple/RTD/Thermistor)
- PID Ramp Control (with auto-tuning capability)
- PWM TE Power Control
- Die force control
- Modularized dry air chamber
- Water chiller
- Dry air supplier
主動熱控模組 (ATC)
- Temperature accuracy : ± 2℃
- Test arm all in one
- Device temperature feedback
- PID Ramp Control (with auto-tuning capability)
- PWM TE Power Control
- Die force control
- Closed-loop cooling system (no external piping)
- Chamber-less
高解熱溫控模組 (PTC)
- Temperature range : < 85 ℃ (up to 300W dissipation)
- Closed-loop cooling system (no external piping)
- Test arm all in one
- Die force control
- Neither water chiller nor dry air supplier
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