布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀
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簡介：布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀是模塊化設計的全功能衍射儀，可實現粉末，塊體，薄膜等樣品的測試分析，同時支持高低溫條件下的原位分析。布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀采用創造性的達芬奇設計，...
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布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀是模塊化設計的全功能衍射儀，可實現粉末，塊體，薄膜等樣品的測試分析，同時支持高低溫條件下的原位分析。布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀通過革命性的TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率，而且大幅提高了設備的探測靈敏度。技術指標：Theta/theta立式測角儀；2Theta角度范圍：-110~168°；角度精度為0.0001度；Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管；探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器；儀器尺寸：1868x1300x1135mm；重量770kg；功率6.5kW。
布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀應用于：物相定性分析；結晶度及非晶相含量分析；結構精修及解析；物相定量分析；點陣參數精確測量；無標樣定量分析；微觀應變分析；晶粒尺寸分析
原位分析；殘余應力；低角度介孔材料測量 織構及ODF分析；薄膜掠入射；薄膜反射率測量；小角散射。
如果您需要布魯克Bruker D8 ADVANCE X射線多晶衍射儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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