布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀
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簡介：布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀擁有高分辨率x射線衍射對外延層(HRXRD)系統，布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀是最新的具有可行的質量控制范圍的高分辨率x射線衍射儀,在20年的時間里,世界各地的數百人在使用在化...
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布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀擁有高分辨率x射線衍射對外延層(HRXRD)系統，布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀是最新的具有可行的質量控制范圍的高分辨率x射線衍射儀,在20年的時間里,世界各地的數百人在使用在化合物半導體和硅的研究和生產設施。布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀是一個高分辨率x射線衍射的工具,是理想的半導體開發和質量控制。布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀用于外延層的組成和厚度測量幾乎任何材料。系統使用標準密封管光學,加上各種梁的優化調節晶體,可以給最高的分辨率和結合強度為每個應用程序。
布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀提供真正的自動化操作,直接水平樣本安裝,和完全自動化校準、測量和數據分析。數據分析可以自動執行,或離線使用我們的流行拉德軟件。樣品階段有一個完整的300毫米的旅行,允許大型晶片的測量,或同時幾個較小的晶片。一個可選的機器人處理程序可以自動加載和測量從磁帶。布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀是半導體基板的常規分析的理想工具。
如果您需要布魯克Bruker JV-QC3 半導體計量儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
