關(guān)于我們
湖南省長沙市車站北路湘域智慧南塔6樓
安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室
0731-84284278
0731-84284278
service@hncsw.net
0731-84284278
布魯克Bruker JV-QCRT 半導(dǎo)體計(jì)量儀
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡介：布魯克Bruker JV-QCRT 半導(dǎo)體計(jì)量儀系統(tǒng)使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術(shù)來識(shí)別高價(jià)值基質(zhì)中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質(zhì),與光學(xué)技術(shù)不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe...
- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker JV-QCRT 半導(dǎo)體計(jì)量儀系統(tǒng)使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術(shù)來識(shí)別高價(jià)值基質(zhì)中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質(zhì),與光學(xué)技術(shù)不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe廣泛用于紅外探測,特別是夜視,薄膜太陽能電池。對于這些應(yīng)用程序,生長晶體的質(zhì)量就變得很重要。布魯克Bruker JV-QCRT 半導(dǎo)體計(jì)量儀用于檢測晶體和基質(zhì)的處理。
如果您需要布魯克Bruker JV-QCRT 半導(dǎo)體計(jì)量儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
最新產(chǎn)品
相關(guān)產(chǎn)品
