布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀
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簡介：當今的材料科學家和工程師已經可以在納米尺度了解和改進材料的性質。令人興奮的新材料，如設計聚合物與生物陶瓷等正在研制之中，同時液晶、金屬有機物和薄膜涂層等材料的更新和發展也正因為對它們納米結構的研究和改進而逐步變為現實。小角X射線散射(Sma...
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布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀是一種用于納米結構材料的可靠而且經濟的無損分析方法當今的材料科學家和工程師已經可以在納米尺度了解和改進材料的性質。令人興奮的新材料，如設計聚合物與生物陶瓷等正在研制之中，同時液晶、金屬有機物和薄膜涂層等材料的更新和發展也正因為對它們納米結構的研究和改進而逐步變為現實。。SAXS能夠給出1-100納米范圍內的顆粒尺度和尺度分布以及液體、粉末和塊材的形貌和取向分布等方面的信息。
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布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀的技術參數：布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀因其光束獨具的高強度、平行初級光束和二維探測器，而與同步輻射SAXS光束具有相似的設計。使用二維探測器避免了零維和一維探測器在數據采集時產生的數據誤差并除去了對樣品限制性初始假定的必要。事實上，布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀可以分析并澄清樣品的性質，甚至在樣品顆粒不對稱或表現有擇優取向的情況下。另外，通過運行布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀可以得到樣品具有µm量級SAXS分辨率的實空間圖像。布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀還配置了高強度的X射線源和新型多層光學配件，可以為樣品提供高強類點入射光束。標配的HI-STAR探測器是一種真正意義上的具有光子計數能力的無噪實時二維探測器。
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