湖南省長(zhǎng)沙市車站北路湘域智慧南塔6樓
安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室
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捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡
名稱:其他儀器與工具
品牌:
型號(hào):
簡(jiǎn)介:捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡有著精煉的外型,全新的視覺(jué)感受。為分析型電鏡全新設(shè)計(jì)的GUI,使操作更加直觀方便。JEOL長(zhǎng)年積累的豐富經(jīng)驗(yàn)在設(shè)計(jì)上得到了充分的體現(xiàn),與舊機(jī)型相比,電鏡的機(jī)械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的...
TEM點(diǎn)分辨率 | 0.19 nm | 0.23 nm |
STEM-HAADF 像 | 0.14 nm @冷場(chǎng)槍 | 0.16 nm @冷場(chǎng)槍 |
0.16 nm @熱場(chǎng)槍 | 0.19 nm @熱場(chǎng)槍 | |
加速電壓 | 200 , 80 kV | 200 , 80 kV |
主要選配件 | 能譜儀(EDS)、電子能量損失譜儀(EELS)、CCD相機(jī)、TEM/STEM斷層掃描系統(tǒng) |
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