捷歐路JEOL JXA-8530F Plus 場發射電子探針顯微分析儀
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簡介：捷歐路JEOL JXA-8530F Plus 場發射電子探針顯微分析儀是最新研發的第三代場發射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學系統有了很大的改進，新的軟件能提供更高的通量，并保持著極高的穩定性，能實現更廣泛的EPMA應用。 捷...
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捷歐路JEOL JXA-8530F Plus 場發射電子探針顯微分析儀是最新研發的第三代場發射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學系統有了很大的改進，新的軟件能提供更高的通量，并保持著極高的穩定性，能實現更廣泛的EPMA應用。
捷歐路JEOL JXA-8530F Plus 場發射電子探針顯微分析儀采用浸沒式肖特基場發射電子槍,優化了角電流密度，能利用2 μA以上的大探針電流進行分析，還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。新開發了多種基于Windows操作系統的軟件，其中包括：能使痕量元素分析更加簡便的“痕量元素分析程序”、能自動制作相圖的“相圖制作器”以及只需簡單輸入就能對表面凹凸不平樣品進行測試的“不平坦樣品的分析程序”等。X射線波譜儀可以選擇140 R或100 R羅蘭圓， 羅蘭圓半徑為140 mm的XCE/L型X射線譜儀檢測范圍寬，波長分辨率高和P/ B比優異，100 mm的H型X射線譜儀具有X射線衍射強度高的特點，可以根據需要選擇使用。
JXA-8530F Plus 場發射電子探針顯微分析儀標配了JEOL制造的30平方毫米 SD檢測器（以下簡稱SD檢測器），憑借高計數率的SD檢測器，在與WDS相同的分析條件下可以進行EDS分析，通過簡單的操作就能采集EDS譜圖。
