秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡
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簡介：秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡可以提供無與倫比的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求，秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡不僅適用于高端的納米分析應用，也給操作者帶...
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秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡可以提供無與倫比的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求，秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡不僅適用于高端的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。
秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡的優點：新一代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力；首次配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現磁性樣品高分辨成像及分析；配置4個新一代探測器，可實現9種圖像觀測，對樣品信息的采集更加全面；配置大型樣品室，有超過20個擴展接口，為原位觀測、分析創造了良好的工作環境；可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并獨家實現與Raman聯用。
以下是艾克賽普為您介紹秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡的技術參數，如有相關問題，請聯系長沙艾克賽普儀器儀表公司m.for815.cn，聯系電話：0731-84284278 84284378。
創新的電子光學鏡筒，使電鏡擁有更加出色的超高分辨率：秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡配置了最新的BrightBeam™鏡筒，實現了無磁場超高分辨成像，可以最大化的實現各種分析，包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設計增強了低能量電子成像分辨率，特別適合對電子束敏感樣品和不導電樣品的分析。另外，EquiPower™透鏡技術可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩定性。
配備最新的多種探測器，更好的表面靈敏度和對比度：秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡可配置最新的多種探測器，包括透鏡內Axial detector 以及 Multidetector，可選擇不同角度和不同能量來收集信號，體現更多種類的信息，同時獲得更好的表面靈敏度和對比度。
如果您需要秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡及秦思肯品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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