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秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡不僅適用于高端的納米分析應(yīng)用，也給操作者帶...
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- 產(chǎn)品介紹
秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡不僅適用于高端的納米分析應(yīng)用，也給操作者帶來(lái)舒適、高效的使用體驗(yàn)。
秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)：新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測(cè)能力；首次配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡，物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄，實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析；配置4個(gè)新一代探測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測(cè)，對(duì)樣品信息的采集更加全面；配置大型樣品室，有超過(guò)20個(gè)擴(kuò)展接口，為原位觀測(cè)、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境；可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并獨(dú)家實(shí)現(xiàn)與Raman聯(lián)用。
以下是艾克賽普為您介紹秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡的技術(shù)參數(shù)，如有相關(guān)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系長(zhǎng)沙艾克賽普儀器儀表公司m.for815.cn，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
創(chuàng)新的電子光學(xué)鏡筒，使電鏡擁有更加出色的超高分辨率：秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡配置了最新的BrightBeam™鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以最大化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特別適合對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。另外，EquiPower™透鏡技術(shù)可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。
配備最新的多種探測(cè)器，更好的表面靈敏度和對(duì)比度：秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡可配置最新的多種探測(cè)器，包括透鏡內(nèi)Axial detector 以及 Multidetector，可選擇不同角度和不同能量來(lái)收集信號(hào)，體現(xiàn)更多種類的信息，同時(shí)獲得更好的表面靈敏度和對(duì)比度。
如果您需要秦思肯TESCAN S8000 FE-SEM 掃描電鏡及秦思肯品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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