湖南省長沙市車站北路湘域智慧南塔6樓
安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室
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反射式在線膜厚測(cè)量儀 FTPadv inline NIR
名稱：涂鍍層測(cè)厚儀
品牌：
型號(hào)：
簡介：FTPadv inline NIR 反射式在線膜厚測(cè)量儀FTP反射式在線膜厚測(cè)量儀，每個(gè)控制器可支持1-7個(gè)光學(xué)探頭，內(nèi)部具有參考樣品。光譜范圍420-2000nm, 可測(cè)量TCO薄膜的膜厚和片狀電阻 廠商名稱： SENTHCH 商品名稱：...
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- 產(chǎn)品介紹
FTPadv inline NIR 反射式在線膜厚測(cè)量儀FTP反射式在線膜厚測(cè)量儀，每個(gè)控制器可支持1-7個(gè)光學(xué)探頭，內(nèi)部具有參考樣品。
光譜范圍420-2000nm, 可測(cè)量TCO薄膜的膜厚和片狀電阻
廠商名稱： SENTHCH
商品名稱： 反射式在線膜厚測(cè)量儀
商品型號(hào)： FTPadv inline NIR
Sensol –M
大面積樣品臺(tái) ，反射式測(cè)量R(λ)
玻璃上TCOs薄膜的厚度
吸收層膜厚
iZnO, ZnO:Al, SnO,
a-Si:H, μc-Si:H
CIS 和 CIGS
SenSol H
水平掃描樣品系統(tǒng)用于大玻璃平板
•霧狀
•透射光譜T(λ) 和反射光譜R(λ)
•方塊電阻：非接觸法
•方塊電阻：四探針
•膜厚測(cè)量探頭
SenSol V
垂直掃描系統(tǒng)
•絨面
•透射光譜T(λ) 和R(λ)
•片狀電阻Ω：光學(xué)法
•片狀電阻Ω：4探針
•膜厚測(cè)量探頭
•Raman 拉曼
•EQE
•I-V
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