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儀器中文名稱：高分辨掃描電鏡
儀器所在城市:北京市
所在單位:中國科學院半導體研究所
儀器型號規格:JSM-6301F
生產廠商：日本電子株式會社
國別:日本
購買日期：
使用日期(年):1993-12-16
認證情況：
主要技術指標:
主要附件及功能: 科研用
儀器負責人: 肖先生
E-mail: shawn.xiao@hncswnet
檢測項目：
收費標準： 面議
儀器中文名稱：高分辨掃描電鏡
儀器所在城市:北京市
所在單位:中國科學院半導體研究所
儀器型號規格:JSM-6301F
生產廠商：日本電子株式會社
國別:日本
購買日期：
使用日期(年):1993-12-16
認證情況：
主要技術指標:
主要附件及功能: 科研用
儀器負責人: 肖先生
E-mail: shawn.xiao@hncswnet
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