儀器中文名稱:納米粒度和 Zeta電位分析儀
儀器所在城市: 長沙市
儀器型號規格: Zetasizer Nano ZS
生產廠商: 馬爾文 
國別: 英國
購置日期(年): 2007-6-1
使用日期(年): 2007-6-1
主要技術指標: 1.粒度測定范圍：0.6nm-6000nm 2. Zeta電位測定范圍：電導率0～200Ms/cm的樣品 3.靈敏度：0.1mg/ml溶菌酶單體 4.分子量測定范圍:1×103～2×107道爾頓 5.被測樣品濃度范圍：0.1ppm-40%(w/w)。 6.可分辨1mV的Zeta電位差別，可測定高鹽（2M）及極低遷移率的樣品 7.最小采樣時間25ns,多于4000通道 8.激光光源，He-Ne,4.0mW，633nm 9.激光衰減:自動,透過率100%-0.0003% 10.溫度控制范圍:2-90度，無需外接設備 11.電源:AC90-240V,50/60Hz,最大功率50W. 
主要附件及功能: 測量范圍寬，濃度應用范圍廣，高分辨Zeta電位，APD檢測器，分子量測定，第二維里系數測定，SOP，和隨時間及溫度的趨勢分析，動態光散射法中的創新：非侵入式背散射法，該方法使過去三種分立的動態光散射技術（即經典PCS，經典背散射及增強型背散射）得到了統一和擴展，并使得測定粒度下限在溫和條件（即低成本）下延伸至0.6nm（分子量1000左右的分子大小），是唯一具有標準操作規程（SOP）的納米粒度分析儀器
本單位該儀器主要應用領域：材料, 大氣物理，農業，林業
儀器負責人: 肖燕
電話: 13787331000
E-mail: accexp@gmail.com
檢測項目： 測量范圍寬，濃度應用范圍廣，高分辨Zeta電位，APD檢測器，分子量測定，第二維里系數測定，SOP，和隨時間及溫度的趨勢分析，動態光散射法中的創新：非侵入式背散射法，該方法使過去三種分立的動態光散射技術（即經典PCS，經典背散射及增強型背散射）得到了統一和擴展，并使得測定粒度下限在溫和條件（即低成本）下延伸至0.6nm（分子量1000左右的分子大小），是唯一具有標準操作規程（SOP）的納米粒度分析儀器 
收費標準： 500.00元/樣