梅特勒-托利多 XP2002S 精密天平
名稱：精密分析天平
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型號：
簡介：梅特勒-托利多 XP2002S 精密天平規格： 最大稱量范圍 2100 g 可讀性 10 mg 秤盤尺寸 170 x 205 mm (W x D) 線性 20 mg 重復性 8 mg 穩定時間（典型） 1.2 s 外部砝碼校準 用戶砝碼 內...
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- 產品介紹
梅特勒-托利多 XP2002S 精密天平規格：
最大稱量范圍 2100 g
可讀性 10 mg
秤盤尺寸 170 x 205 mm (W x D)
線性 20 mg
重復性 8 mg
穩定時間（典型） 1.2 s
外部砝碼校準 用戶砝碼
內部砝碼校準 proFACT專業級全自動校準技術, 溫度漂移和時間觸發的全自動內校
去皮范圍 0…2100 g
偏心負載 20 mg
秤臺尺寸 194 x 257 x 96 mm (W x D x H)
終端尺寸 194 x 133 x 58 mm (W x D x H)
靈敏度精度 3x10-5·Rnt
靈敏度穩定性 2.5x10-5/a·Rnt
接口更新速率 23/s
METTLER TOLEDO XP2002S 精密天平標準特性：
SmartScreen，圖形化的彩色觸摸屏終端
SmartSens內置紅外感應器,雙傳感器，無需用手接觸便可完成天平操作
LevelControl水平控制系統, 當天平偏移水平位置時發出警報
狀態條，兩個指示器顯示紅外感應器的功能狀態
RS232 接口
第二接口選件插槽,多種不同接口可供選擇
proFACT專業級全自動校準技術
塑料保護罩
下掛稱量的專用掛鉤
大的方形不銹鋼秤盤
